司法鑒定CNAS和CMA報告報告翻譯抽樣檢測真實(shí)反應產(chǎn)品品質(zhì)承接廣東省、廣州市、中山市、廈門(mén)市、江蘇省、浙江省、長(cháng)三角科技創(chuàng )新券與廣東省中小微企業(yè)服務(wù)券技術(shù)培訓產(chǎn)品性能和良率提升咨詢(xún)政府科研項目驗收（材料類(lèi)）
破壞性物理分析（DPA）金鑒實(shí)驗室失效點(diǎn)定位和失效分析的區別PCB鍍層可靠性和失效分析LED失效分析重要手段——光熱分布檢測LED芯片失效分析塑封器件分層失效分析鍍銀層氧化失效分析UV LED失效分析燈珠氣密性差光衰失效分析倒裝LED的失效分析燈珠鍵合線(xiàn)B點(diǎn)斷裂漏電失效分析燈絲燈失效分析燈珠金球A點(diǎn)脫落失效分析燒燈珠失效分析硅膠開(kāi)裂發(fā)黑發(fā)脆失效分析燈珠變色發(fā)黑失效分析銀膠剝離失效分析LED光源失效分析LED燈具失效分析LED驅動(dòng)電源失效分析電子元器件失效分析PCB/PCBA失效分析LED可靠性+失效分析LED硫化失效分析
彈坑試驗離子污染測試RoHS2.0透過(guò)率測量RoHS測試C-SAM切片分析塑封器件激光開(kāi)封/開(kāi)蓋服務(wù)（ Laser Decap ）膠水無(wú)鹵測試X光檢查支架鍍層切片分析氬離子拋光/CP截面拋光切割制作SEM樣品LED芯片橫截面解析（FIB+SEM）芯片漏電點(diǎn)定位及分析（EMMI/OBIRCH，顯微光熱分布，FIB-SEM）LED外延片結構SIMS解析LED TEM分析FIB制作TEM樣品燈珠熱阻/結溫測試LED封裝膠水無(wú)氯鑒定物質(zhì)元素成分檢測LED燈具紅外熱像LED芯片紅外熱像熱分布PCB板絕緣層與銅箔厚度檢測LED無(wú)硫溴氯鑒定耐熱性燈具揮發(fā)性物質(zhì)(VOC)鑒定導熱系數/熱阻熱膨脹系數DSC玻璃化轉變溫度
LED燈珠廠(chǎng)商鑒定外延位錯密度測試PCB板清潔度測試回流焊空洞率X光檢查電鍍行業(yè)產(chǎn)品優(yōu)化測試分析方案 配方分析成分分析競品分析LED固晶工藝評價(jià)電源灌封膠材料質(zhì)量和使用可靠性評估顯示器灌封膠材料質(zhì)量和使用可靠性評估鋁基板來(lái)料檢驗錫膏焊接工藝分析金錫共晶焊工藝分析材料一致性比對LED熒光粉來(lái)源鑒定環(huán)氧樹(shù)脂來(lái)料檢驗LED燈具體檢LED電源質(zhì)量鑒定小批量LED芯片封裝代工硅膠來(lái)料檢驗LED燈珠封樣 LED逆向工程LED熒光粉的來(lái)料檢驗LED芯片漏電點(diǎn)鑒定LED芯片來(lái)源鑒定LED芯片來(lái)料檢驗LED SMT回流焊缺陷X光檢查評估導電銀膠來(lái)料檢驗LED熒光粉涂覆工藝評價(jià)LED引線(xiàn)鍵合工藝評價(jià)LED燈珠體檢LED電源無(wú)硫溴氯鑒定LED燈具排硫溴氯鑒定報告LED封裝車(chē)間排硫溴氯檢測LED應用產(chǎn)品SMT生產(chǎn)排硫溴氯LED光源黑化初步診斷LED金線(xiàn)來(lái)料檢驗LED支架的鍍銀層來(lái)料檢驗LED水口料鑒定LED瓷嘴甄選和壽限評估LED封裝器件的熱阻測試評估疑是有害硫/氯/溴化物確診
AEC-Q102測試認證高濃度氣體腐蝕測試混合氣體腐蝕試驗（FMG）LED燈具可靠性試驗方法（GB/T 33721-2017）元器件篩選氨氣試驗CAF測試阻燃等級循環(huán)腐蝕試驗（CCT）機械沖擊試驗高壓蒸煮試驗（PCT）高壓蒸煮試驗加速測試（HAST）高低溫濕熱試驗（THB）硫化氫試驗（H2S）液槽冷熱沖擊測試(TMSK)元器件濕敏等級試驗（MSL）高可靠用途的篩選潮熱試驗+聲掃高可靠用途的篩選(MSL+SAT)LED燈具可靠性測試方案振動(dòng)試驗（VVF）溫度循環(huán)/冷熱沖擊試驗（TC/TS）LED紅墨水實(shí)驗紫外老化測試LED光源抗硫化實(shí)驗雙85恒溫恒濕可靠性環(huán)境試驗（THB）鹽霧試驗
電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗成品灼熱絲試驗（GWEPT）針焰試驗泄漏電流試驗外部接線(xiàn)和內部接線(xiàn)球壓試驗爬電距離和電氣間隙耐久性試驗漏電起痕試驗（PTI 175）絕緣電阻試驗燈具結構接地電阻試驗靜態(tài)風(fēng)力試驗防觸電保護潮濕試驗標記試驗防塵等級試驗安規檢測溫升測試燈具耐壓測試防水等級試驗
62471光生物安全電阻測試62778視網(wǎng)膜藍光危害Erp指令能效LED近場(chǎng)光學(xué)測試LED光電性能檢測配光曲線(xiàn)及IES文件測試LED抗靜電能力測試LED芯片發(fā)光均勻度
透射電鏡（TEM） 聚焦離子雙束顯微鏡（FIB-SEM） 場(chǎng)發(fā)射電鏡（FESEM） 鎢燈絲電鏡 電子背散射衍射（EBSD） 顯微紅外熱點(diǎn)定位測試系統 顯微熱分布測試系統 原子力顯微鏡（AFM） 熱機械分析儀（TMA） 顯微紅外光譜儀（Micro FTIR） 導熱系數測試儀 金相顯微鏡 熱阻熱瞬態(tài)測試儀（T3ster） 熱重分析儀(TGA) 差示掃描量熱儀（DSC） 微光顯微鏡（EMMI） X光檢查儀 超聲波掃描顯微鏡（SAT） X射線(xiàn)能譜儀（EDS）
電導率儀 紫外/可見(jiàn)光分光光度計 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀（ICP-AES /ICP-OES） 離子色譜（IC） 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GCMS） 能量色散X熒光光譜儀（XRF）
化學(xué)開(kāi)封機 激光開(kāi)封系統（粗開(kāi)封） 激光開(kāi)封機（精開(kāi)封） 反應離子刻蝕機（RIE） TEM制樣離子減薄儀（PIPS） 氬離子拋光儀/CP離子研磨截面拋光儀
循環(huán)腐蝕氣體試驗箱 循環(huán)/恒定濕熱試驗箱 冷熱沖擊試驗箱 高濃度氣體腐蝕箱 CAF/SIR測試系統 半導體推拉力機 數顯推拉力計 穩態(tài)加速度試驗離心機 氟油檢漏儀 氦質(zhì)譜檢漏儀 板彎曲、推拉力試驗機 振動(dòng)試驗機 快速溫變試驗箱 高度加速壽命試驗機 PCT高溫高壓蒸汽滅菌鍋 高溫烘箱 溫度、濕度、振動(dòng)綜合試驗系統 臭氧老化試驗箱 紫外線(xiàn)老化試驗箱 沙塵試驗箱 定向跌落試驗機 機械沖擊試驗機 LM-79/LM-80測試 鹽霧試驗箱 氙燈老化試驗箱
光生物安全測試系統 VCSEL 光電測試分析系統（紅外光譜儀） 紫外LED自動(dòng)溫控光電分析測量系統 分光測色計 多角度光澤計 顯微光分布測試系統 可見(jiàn)光譜分析系統（積分球） 近場(chǎng)光學(xué)測試設備帶光譜（SIG-400） LED分布光度計（燈珠） LED分布式光度計（燈具）
光耦參數測試儀 無(wú)感電阻 耐壓測試儀 任意波形函數信號發(fā)生器 泄漏電流測試儀 接地電阻測試儀 數字存儲示波器 直流電子負載 絕緣電阻測試儀 LED驅動(dòng)電源性能測試儀 電源
針焰試驗機 水平垂直燃燒試驗機 滾筒跌落試驗機 防水試驗裝置/防水等級測試裝置 光源頻閃測量?jì)x 電子臺秤 數顯扭矩起子 灼熱絲試驗儀 穩定性試驗臺 推力試驗直指 數顯傾角儀 數顯扭矩扳手 試驗鋼球2 試驗鋼球1 試具A探針 球壓試驗裝置 爬電距離測試卡 防觸電探針電源箱 防觸電標準試驗指 燈具環(huán)溫筒 彈簧沖擊錘 擺錘和垂直沖擊試驗裝置 3N推力C型試驗探針 1N推力D型試驗探針 漏電起痕試驗機 燈頭扭力儀 多路溫度測試儀
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